Ii 5 výstup měřených hodnot, Spuštěn výstupu měřených hodnot – HEIDENHAIN PT 855 for Turning Uživatelská příručka
Stránka 75
II 5 Výstup měřených hodnot
POSITIP 855
Technické informace
77
II 5
Výstup měřených hodnot
POSITIP může měřené hodnoty vydávat přes datové rozhran .
Spuštěn výstupu měřených hodnot
Jsou dvě možnosti, jak spustit výstup měřených hodnot:
•
ř dic znak na datovém rozhran
•
signál na sp nac m vstupu
Časový interval mezi signálem k uložen do paměti a výstupem
měřené hodnoty závis na zvoleném signálu.
Doba prùchodu signálu mìøené hodnoty
Signály měřených hodnot jsou po cca 4 µs ve vyrovnávac paměti,
z n ž se vyb raj intern m signálem pro uložen do paměti.
Vydává se tedy ta měřená hodnota, kterou POSITIP zjistil cca 4 µs
před intern m uložen m do paměti.
Spuštěn výstupu měřených hodnot přes extern sp nac vstup
Přes sp nac vstup na př pojce Sub D EXT můžete spustit výstup
měřených hodnot tak, že dodáte impulz nebo sepnete kontakt.
Kontakt na pinu 9: sepnout sp nač proti 0 V
Impulz na pinu 8: délka impulzu t
e
≥
1,2 µs
Kontakt nebo impulz můžete také vložit přes čip TTL
(např. SN 74 LS XX):
U
H
≥
3,9 V (U
MAX
= 15 V)
U
L
≤
0,9 V při I
L
≤
6 mA
E X T
P I N 9
P I N 1
( 0 V )
P I N 8
P I N 1
( 0 V )
t
e
E X T
t
1
t
3
t
2
t
D
t
e
T X D
t
e
: Minimáln doba trván impulz
t
e
≥
1,2 ms
t
e
: Minimáln doba trván kontakt
t
e
≥
7 ms
t
1
: Doba mezi impulzem a intern m uložen m do paměti
t
1
≤
0,8 µs
t
1
: Doba mezi kontaktem a intern m uložen m do paměti
t
1
≤
4,5 ms
t
2
: Čas mezi intern m uložen m do paměti a výstupem měř.
hodnoty
t
2
≤
30 ms
t
3
: Čas mezi koncem výstupu dat a novým
uložen m do paměti přes extern sp nac vstup
t
3
≥
0 ms
t
D
: Doba trván výstupu měřené hodnoty závislá na
•
nastavené přenosové rychlosti v baudech (BR),
•
počtu os (M) a
•
počtu prázdných řádek (L)
t
D
=
[s]
BR
187 • M + L •
11
Obr. 42:Signál sepnut m kontaktu proti 0 V
nebo impulz
Obr. 43:Časový diagram pro výstup
měřených hodnot přes extern
sp nac vstup